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Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement

儀器儀表和測(cè)量的IEEE Transactions SCIE

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement

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2區(qū)中科院分區(qū)

Q1JCR分區(qū)

5.6影響因子

0018-9456

1557-9662

IEEE T INSTRUM MEAS

UNITED STATES

工程技術(shù) - 工程:電子與電氣

1952

100

Bimonthly

English

2247

0.23...

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期刊簡(jiǎn)介

儀器儀表和測(cè)量的IEEE Transactions(Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement)是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版的一本工程技術(shù)-工程:電子與電氣學(xué)術(shù)刊物,主要報(bào)道工程技術(shù)-工程:電子與電氣相關(guān)領(lǐng)域研究成果與實(shí)踐。本刊已入選來源期刊,屬于國(guó)際一流期刊。該刊創(chuàng)刊于1952年,出版周期Bimonthly。2021-2022年最新版WOS分區(qū)等級(jí):Q1,2023年發(fā)布的影響因子為5.6,CiteScore指數(shù)9,SJR指數(shù)1.536。本刊非開放獲取期刊。

征集的論文應(yīng)涉及創(chuàng)新解決方案,以開發(fā)和使用電氣和電子儀器和設(shè)備來測(cè)量、監(jiān)控和/或記錄物理現(xiàn)象,從而推動(dòng)測(cè)量科學(xué)、方法、功能和應(yīng)用的發(fā)展。這些論文的范圍可能包括:(1) 測(cè)量的理論、方法和實(shí)踐;(2) 用于生成、獲取、調(diào)節(jié)和處理信號(hào)的儀器和測(cè)量系統(tǒng)及組件的設(shè)計(jì)、開發(fā)和評(píng)估;(3) 分析、表示、顯示和保存從一組測(cè)量中獲得的信息;(4) 對(duì)儀器和測(cè)量領(lǐng)域技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的建立和維護(hù)提供科學(xué)和技術(shù)支持。

中科院分區(qū)信息

儀器儀表和測(cè)量的IEEE Transactions2023年12月升級(jí)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū)
儀器儀表和測(cè)量的IEEE Transactions2022年12月升級(jí)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū)
儀器儀表和測(cè)量的IEEE Transactions2021年12月舊的升級(jí)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū)
儀器儀表和測(cè)量的IEEE Transactions2021年12月基礎(chǔ)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 3區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 3區(qū) 2區(qū)
儀器儀表和測(cè)量的IEEE Transactions2021年12月升級(jí)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū)
儀器儀表和測(cè)量的IEEE Transactions2020年12月舊的升級(jí)版
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 2區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 2區(qū) 2區(qū)
名詞解釋:

中科院JCR期刊分區(qū)(又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù))是中國(guó)科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心世界科學(xué)前沿分析中心的科學(xué)研究成果。在中科院期刊分區(qū)表中,主要參考3年平均IF作為學(xué)術(shù)影響力,最終每個(gè)分區(qū)的期刊累積學(xué)術(shù)影響力是相同的,各區(qū)的期刊數(shù)量由高到底呈金字塔式分布。

JCR分區(qū)信息

Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement(2023-2024年最新版數(shù)據(jù))
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 53 / 352
85.1%
學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 9 / 76
88.8%
按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 52 / 354
85.45%
學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q1 7 / 76
91.45%
名詞解釋:

湯森路透每年出版一本《期刊引用報(bào)告》(Journal Citation Reports,簡(jiǎn)稱JCR)。JCR對(duì)86000多種SCI期刊的影響因子(Impact Factor)等指數(shù)加以統(tǒng)計(jì)。JCR將收錄期刊分為176個(gè)不同學(xué)科類別在JCR的Journal Ranking中,主要參考當(dāng)年IF,最終每個(gè)分區(qū)的期刊數(shù)量是均分的。

期刊數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)

1、Cite Score(2024年最新版)
學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Physics and Astronomy 小類:Instrumentation Q1 13 / 141
91%
大類:Physics and Astronomy 小類:Electrical and Electronic Engineering Q1 114 / 797
85%
名詞解釋:

CiteScore:該指標(biāo)由Elsevier于2016年提出,指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScorer的計(jì)算方式是:例如,某期刊2022年CiteScore的計(jì)算方法是該期刊在2019年、2020年和2021年發(fā)表的文章在2022年獲得的被引次數(shù),除以該期刊2019年、2020年和2021發(fā)表并收錄于Scopus中的文章數(shù)量總和。

2、綜合數(shù)據(jù)
3、本刊綜合數(shù)據(jù)對(duì)比及走勢(shì)

文章引用數(shù)據(jù)

文章名稱 引用次數(shù)
  • Automatic Defect Detection of Fasteners ...

    54
  • Intelligent Bearing Fault Diagnosis Meth...

    53
  • Medical Image Fusion With Parameter-Adap...

    43
  • Monitoring of Large-Area IoT Sensors Usi...

    40
  • Vibration-Based Intelligent Fault Diagno...

    34
  • Deep Architecture for High-Speed Railway...

    26
  • Highly Sensitive SPR Biosensor Based on ...

    26
  • RideNN: A New Rider Optimization Algorit...

    25
  • An Unsupervised-Learning-Based Approach ...

    21
  • A CNN-Based Defect Inspection Method for...

    20

期刊被引用數(shù)據(jù)

期刊名稱 引用次數(shù)
  • IEEE T INSTRUM MEAS

    2095
  • IEEE ACCESS

    940
  • SENSORS-BASEL

    761
  • IEEE SENS J

    555
  • MEASUREMENT

    390
  • ENERGIES

    245
  • APPL SCI-BASEL

    194
  • ELECTRONICS-SWITZ

    169
  • IEEE T IND ELECTRON

    149
  • MEAS SCI TECHNOL

    149

期刊引用數(shù)據(jù)

期刊名稱 引用次數(shù)
  • IEEE T INSTRUM MEAS

    2095
  • IEEE SENS J

    265
  • IEEE T IND ELECTRON

    205
  • MEAS SCI TECHNOL

    203
  • SENSORS-BASEL

    177
  • IEEE T MICROW THEORY

    174
  • METROLOGIA

    167
  • IEEE T POWER DELIVER

    162
  • MEASUREMENT

    151
  • MECH SYST SIGNAL PR

    132

國(guó)家/地區(qū)發(fā)文數(shù)據(jù)

國(guó)家/地區(qū)名 數(shù)量
  • CHINA MAINLAND

    696
  • Italy

    237
  • USA

    215
  • India

    144
  • England

    101
  • Canada

    92
  • GERMANY (FED REP GER)

    70
  • Spain

    53
  • South Korea

    47
  • Brazil

    38

機(jī)構(gòu)發(fā)文數(shù)據(jù)

機(jī)構(gòu)名 數(shù)量
  • INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (I...

    85
  • CHINESE ACADEMY OF SCIENCES

    50
  • XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY

    44
  • TSINGHUA UNIVERSITY

    42
  • TIANJIN UNIVERSITY

    40
  • BEIHANG UNIVERSITY

    39
  • UNIVERSITY OF MISSOURI SYSTEM

    33
  • HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY

    30
  • SHANGHAI JIAO TONG UNIVERSITY

    28
  • SOUTHWEST JIAOTONG UNIVERSITY

    28

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