電子測(cè)試?yán)碚撆c應(yīng)用雜志 SCIE

期刊簡(jiǎn)介

電子測(cè)試?yán)碚撆c應(yīng)用雜志(Journal Of Electronic Testing-theory And Applications)是一本由Springer US出版的一本工程：電子與電氣-工程技術(shù)學(xué)術(shù)刊物，主要報(bào)道工程：電子與電氣-工程技術(shù)相關(guān)領(lǐng)域研究成果與實(shí)踐。本刊已入選來(lái)源期刊，該刊創(chuàng)刊于1990年，出版周期Bimonthly。2021-2022年最新版WOS分區(qū)等級(jí)：Q4，2023年發(fā)布的影響因子為1.1，CiteScore指數(shù)2，SJR指數(shù)0.271。本刊非開(kāi)放獲取期刊。

《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》是傳播電子測(cè)試領(lǐng)域研究和應(yīng)用信息的國(guó)際論壇。這是唯一一本專門針對(duì)電子測(cè)試的雜志。《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》上發(fā)表的論文經(jīng)過(guò)同行評(píng)審，以確保原創(chuàng)性、及時(shí)性和相關(guān)性。該雜志提供檔案材料，并通過(guò)其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業(yè)人員。雖然它強(qiáng)調(diào)發(fā)表珍貴的未發(fā)表材料，但需要更廣泛曝光的優(yōu)秀會(huì)議論文，只要符合該雜志的同行評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)，編輯也會(huì)酌情發(fā)表。 《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》還尋求清晰的調(diào)查和評(píng)論文章，以促進(jìn)對(duì)最新技術(shù)的更好理解。

《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》的報(bào)道包括但不限于以下主題：

VLSI 設(shè)備印刷電路板和電子系統(tǒng)的測(cè)試；

模擬和數(shù)字電子電路的測(cè)試；

微處理器、存儲(chǔ)器和信號(hào)處理設(shè)備的測(cè)試；

故障建模；

測(cè)試生成；

故障模擬；

可測(cè)試性分析；

可測(cè)試性設(shè)計(jì)；

可測(cè)試性綜合；

內(nèi)置自測(cè)試；

測(cè)試規(guī)范；

容錯(cuò)；

形式驗(yàn)證硬件；

驗(yàn)證模擬；

設(shè)計(jì)調(diào)試；

測(cè)試和診斷的人工智能方法和專家系統(tǒng)；

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）；

測(cè)試夾具；

電子束測(cè)試系統(tǒng)；

測(cè)試編程；

測(cè)試數(shù)據(jù)分析；

測(cè)試經(jīng)濟(jì)性；

質(zhì)量和可靠性；

CAD 工具；

晶圓級(jí)集成器件測(cè)試；

可靠系統(tǒng)測(cè)試；

制造良率和良率改進(jìn)設(shè)計(jì)；

故障模式分析和工藝改進(jìn)