計(jì)算機(jī)與數(shù)字技術(shù) SCIE

期刊簡(jiǎn)介

計(jì)算機(jī)與數(shù)字技術(shù)(Iet Computers And Digital Techniques)是一本由Wiley出版的一本工程技術(shù)-計(jì)算機(jī)：理論方法學(xué)術(shù)刊物，主要報(bào)道工程技術(shù)-計(jì)算機(jī)：理論方法相關(guān)領(lǐng)域研究成果與實(shí)踐。本刊已入選來(lái)源期刊，該刊創(chuàng)刊于2007年，出版周期Bi-monthly。2021-2022年最新版WOS分區(qū)等級(jí)：Q3，2023年發(fā)布的影響因子為1.1，CiteScore指數(shù)3.5，SJR指數(shù)0.393。本刊為開(kāi)放獲取期刊。

IET 計(jì)算機(jī)與數(shù)字技術(shù)發(fā)表技術(shù)論文，介紹數(shù)字片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)和電子及嵌入式系統(tǒng)測(cè)試各個(gè)方面的最新研究和開(kāi)發(fā)工作，包括設(shè)計(jì)自動(dòng)化工具（方法、算法和架構(gòu)）的開(kāi)發(fā)。特別歡迎基于與 CMOS 技術(shù)縮小相關(guān)的問(wèn)題的論文。它面向計(jì)算機(jī)和數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計(jì)和測(cè)試領(lǐng)域的研究人員、工程師和教育工作者。

感興趣的關(guān)鍵主題領(lǐng)域是：

設(shè)計(jì)方法和工具：CAD/EDA 工具、硬件描述語(yǔ)言、高級(jí)和架構(gòu)綜合、硬件/軟件協(xié)同設(shè)計(jì)、基于平臺(tái)的設(shè)計(jì)、3D 堆疊和電路設(shè)計(jì)、片上系統(tǒng)架構(gòu)和 IP 核、嵌入式系統(tǒng)、邏輯綜合、低功耗設(shè)計(jì)和功率優(yōu)化。

仿真、測(cè)試和驗(yàn)證：電氣和時(shí)序仿真、基于仿真的驗(yàn)證、硬件/軟件協(xié)同仿真和驗(yàn)證、混合域技術(shù)建模和仿真、硅后驗(yàn)證、功率分析和估算、互連建模和信號(hào)完整性分析、硬件信任和安全性、可測(cè)試性設(shè)計(jì)、嵌入式核心測(cè)試、片上系統(tǒng)測(cè)試、在線測(cè)試、自動(dòng)測(cè)試生成和延遲測(cè)試、低功耗測(cè)試、可靠性、故障建模和容錯(cuò)。

處理器和系統(tǒng)架構(gòu)：多核系統(tǒng)、通用和專用處理器、DSP 應(yīng)用的計(jì)算算法、算術(shù)和邏輯單元、高速緩存、內(nèi)存管理、協(xié)處理器和加速器、片上系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)、嵌入式內(nèi)核、平臺(tái)、多處理器、分布式系統(tǒng)、通信協(xié)議和低功耗問(wèn)題。

可配置計(jì)算：嵌入式內(nèi)核、FPGA、快速原型設(shè)計(jì)、自適應(yīng)計(jì)算、可演化和靜態(tài)和動(dòng)態(tài)可重構(gòu)及可重新編程系統(tǒng)、可重構(gòu)硬件。

針對(duì)可變性、功耗和老化的設(shè)計(jì)：針對(duì)可變性、功耗和老化感知設(shè)計(jì)、內(nèi)存、FPGA、IP 組件、3D 堆疊、能量收集的設(shè)計(jì)方法。

案例研究：新興應(yīng)用、工業(yè)設(shè)計(jì)中的應(yīng)用以及設(shè)計(jì)框架。